Фундаментальные основы анализа нанопленок

Фундаментальные основы анализа нанопленок

Алфорд Терри Л.

Раздел: Научно-популярные книгиФизико-математические наукиФизика. Механика

Издательство
Научный мир
Год издания
2020
Страниц
392
Переплёт
твёрдый
Формат
70х100/16 шитая
Вес
638 г
ISBN
978-5-91522-225-9

Узнать больше

Объявления с этим изданием

Пока никто не продаёт это издание. Разместите первым.