Инженерные основы измерений нанометровой точности,пер. с англ. Учебное пособие
Лич Ричард
- Издательство
- Интеллект групп
- Год издания
- 2012
- Страниц
- 400
- ISBN
- 978-5-91559-119-5
Узнать больше
Объявления с этим изданием
Пока никто не продаёт это издание. Разместите первым.