Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии (Мир наук о земле). Рид С. (Техносфера)
Рид Стефан Дж. Б.
- Издательство
- Техносфера
- Год издания
- 2008
- Страниц
- 232
- Переплёт
- твёрдый
- ISBN
- 978-5-94836-177-2
Узнать больше
Объявления с этим изданием
Пока никто не продаёт это издание. Разместите первым.